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我校舉辦集成電路測試人才培養(yǎng)論壇

時間:2023-01-03    來源:信息學(xué)院     供稿:魏淑華    瀏覽:   
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12月30日,由北方工業(yè)大學(xué)與安慶師范大學(xué)共同主辦,中國計算機(jī)學(xué)會容錯計算專委會協(xié)辦的集成電路測試人才培養(yǎng)論壇圓滿落幕,本次論壇以線上方式進(jìn)行,來自北方工業(yè)大學(xué)、中科院計算所、北京大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)、西安交通大學(xué)、安慶師范大學(xué)等多所高校以及愛德萬測試、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等企事業(yè)單位的專家相聚云端,為我國集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展集眾智、匯眾力,共同探討集成電路專業(yè)人才培養(yǎng)新思路、新舉措。

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本次論壇以行業(yè)需求為導(dǎo)向,就集成電路測試人才培養(yǎng)問題展開討論和研究。會上,我校張靜教授、魏淑華副教授分別介紹了我校微電子科學(xué)與工程專業(yè)和測試課程建設(shè)情況。中科院計算所李華偉教授、北京大學(xué)馮建華教授、哈爾濱工業(yè)大學(xué)俞洋教授、西安交通大學(xué)伍民順教授、愛德萬測試(中國)管理有限公司楊廣宇經(jīng)理、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院任翔主任、安慶師范大學(xué)詹文法教授分別作了題為《中科院計算所的測試綜合EDA研究》、《IC測試和可測試性設(shè)計發(fā)展現(xiàn)狀及未來趨勢》、《集成電路測試中的關(guān)鍵技術(shù)問題》、《一種用于測量ADC靜態(tài)特性的通用直方圖測試方法》、《IC測試人才的培養(yǎng)以及校企合作的契機(jī)》、《中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院集成電路測評中心介紹》和《安慶師范大學(xué)集成電路測試團(tuán)隊情況介紹》的專題報告。

集成電路產(chǎn)業(yè)已成為引領(lǐng)現(xiàn)代科技的重要組成部分,集成電路測試正逐步成為集成電路產(chǎn)業(yè)中一個不可或缺的獨立行業(yè)。本次論壇充分實踐“對接產(chǎn)業(yè),深化教學(xué),持續(xù)賦能”的理念,建立良好的產(chǎn)業(yè)-院校合作交流機(jī)制,聚焦產(chǎn)教深度融合,暢談產(chǎn)學(xué)合作新思路,探索集成電路專業(yè)技能人才培養(yǎng)新方法,對探索不同層次集成電路人才培養(yǎng)新模式,構(gòu)建專業(yè)技能人才培養(yǎng)新生態(tài)具有積極的作用。

編輯:左芳舟

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